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Prof. Dr. Heinrich Arlinghaus

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Grundlage der massenspektrometrischen Analyseverfahren bildet der durch Ionenbeschuss (Primärionen) von Festkörperoberflächen freigesetzte Sekundärteilchenfluss, der überwiegend aus der obersten Monolage stammt und sowohl neutrale als auch geladene Atome, Cluster aber auch größere Moleküle umfasst. Die geladen emittierten Sekundärteilchen können parallel massenspektrometrisch nachgewiesen werden (ToF-SIMS), bilden aber oft nur einen geringen Anteil am zerstäubten Sekundärteilchenfluss, wodurch auch die Empfindlichkeit der ToF-SIMS physikalisch begrenzt wird.

Westfälische Wilhelms Universität Münster
Wilhelm-Klemm-Str. 10 | 48149 Münster

Tel. +49 251 83-39064

 

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